长鑫存储/产品经理/面议

1.测试方式开发：主导新产品研发与量产阶段CP/ATE产品测试方式开发，构建完善的测试架构支撑产品验证；2.良率提升与根因分析：主导新产品及量产产品的良率提升与失效根因分析，制定更有效的测试方法并持续提升测试覆盖率；3.DFT优化与设计：基于电路分析能力，持续优化并设计新的DFT方案，提升产品可测试性与故障隔离精度；4.Burnin退化分析：基于半导体器件基础，结合Nanoprobe等失效分析手法，定位Burnin测试中的具体退化机制并驱动改善。
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